Es gibt mittlerweile sehr viele Möglichten Oberflächen zu analysieren. Hier sollen einige kurz vorgestellt werden:
XRD
Korngrößen, Kristallgitter, Strukturanalysen? Die Röntgenstrukturanalyse kann mittels der Streuung von Röntgenstrahlen aushelfen. Das Prinzip ist einfach: Ein Strahl trifft auf die Oberfläche und wird gebeugt. Das ist möglich da Röntgenstrahlen ungefähr ebenso lang sind wie die Atome voneinander entfernt sind.
REM
Rasterelektronenmikroskop - kann hochaufgelöste Bilder der Oberfläche machen. Eine höhere Auflösung gegenüber dem Lichtmikroskop ist möglich da sichtbares Licht durch die zu hohe Wellenlänge in der Auflösung begrenzt ist.
STM
Das Rastertunnelmikroskop kann bei elektrisch leitenden Proben die Oberflächenmorphologie und verschiedene Leitfähigkeiten messen.
Zyklovoltammetrie
Mit Hilfe der Zyklovoltammetrie können Oberflächenvorgänge oder Redoxvorgänge in der Lösung charakterisiert und initiiert werden. Das Potential wird hierfür zwischen zwei Potentialen mit einer Potentialvorschubgeschwindigkeit (Scanrate) zyklisiert. Mit Hilfe der Zyklovoltammetrie (oder auch Cyclovoltammtrie) können die Formalpotentiale und Geschwindigkeitskonstanten bestimmter Reaktionspartner /Reaktionen untersucht werden. Damit ist die Zyklovoltammetrie eine Methode die sowohl thermodynamische und kinetische Aussagen über ein Redoxsystem treffen kann.
ECM - Electrochemical Microscope
Brewster-Winkel
Das Rastertunnelmikroskop kann bei elektrisch leitenden Proben die Oberflächenmorphologie und verschiedene Leitfähigkeiten messen.
Ellipsometrie
Rasterelektronenmikroskop - kann hochaufgelöste Bilder der Oberfläche machen. Eine höhere Auflösung gegenüber dem Lichtmikroskop ist möglich da sichtbares Licht durch die zu hohe Wellenlänge in der Auflösung begrenzt ist.
STM
Das Rastertunnelmikroskop kann bei elektrisch leitenden Proben die Oberflächenmorphologie und verschiedene Leitfähigkeiten messen.